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手机壳冷热冲击试验机

简要描述:

手机壳冷热冲击试验机温度冲击试验:
1、升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大,同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。
2、温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。温度冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。

更新时间:2024-10-05
浏览次数:2987

  • 手机壳冷热冲击试验机的详细资料:
品牌艾思荔/Asli适用领域科研
温度范围-50~150℃额定电压380V
产地国产加工定制

 <strong><strong>手机壳冷热冲击试验机</strong></strong>

手机壳冷热冲击试验机 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 又称高低温冲击试验箱,是专业用于LED老化试验和耐高低温试验的设备。在国内,勤上光电,雷士照明等一大批LED光电企业,均有订购该系列试验箱做测试。

冷热冲击试验机型号规格:

型号 TS-80  内形尺寸D×W×H  400×400×500

型号TS -225  内形尺寸D×W×H  500×600×750

型号TS -500  内形尺寸D×W×H  700×800×900

型号TS -800  内形尺寸D×W×H  800×1000×1000

型号TS -1000 内形尺寸D×W×H  1000×1000×1000

<strong><strong>手机壳冷热冲击试验机</strong></strong>

冷热冲击试验机温度变化率:

1槽法:大于30℃/分钟 (空气)

2槽法:大于50℃/分钟 (空气)

1槽法:小于15℃/分钟 (试样)

1槽法:小于20℃/分钟 (空气)

加速系数:100~500倍

比加速试验加速系数小 10~20倍

试验结果:设计信息   生产品质差异验证

冷热冲击试验机技术指标:

试验方法:温度冲击试验 温度循环试验

试验环境:比使用环境更严酷 极限使用环境

试样:零部件 元器件,焊点(BGA,CSP) 成品

试样尺寸:小比较大

试验温度范围:-40(-55)~125(150)℃、 -40(-65)~125(150)℃、 -40(-0)~100℃

目的:加速应力试验 加速寿命试验 环境应力筛选试验(ESS)

<strong><strong>手机壳冷热冲击试验机</strong></strong>

冷热冲击试验机温度冲击试验:

1升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大,同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。

2温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。温度冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。

3温度冲击试验容许使用二槽式试验装置;温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内,温度变化率要大于50℃/分钟。

4、引起温度冲击的原因:回流焊,干燥,再加工,修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。

5、加速应力试验:加速试验是使用比在实际环境中更短的时间,对试验样品进行的加速试验,以考察其失效机理。试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效,。但是须注意避免其它应力原因引起的失效机理。

郑重承诺!艾思荔手机壳冷热冲击试验机1年免费保修,免费送货上门,免费安装调试及操作技术培训。《可按客户要求量身订制》

<strong>手机壳冷热冲击试验机</strong>

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