PCT高压加速老化试验箱

PCT高压加速老化试验箱应用范围：

主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

试验箱设备特点：
1.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
2.圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
3.水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量少。
4.型packing ,材质：耐高温夕胶发泡成型，内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.
6.实验开始前可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing＜1micom.以确保箱内之纯净度.
7.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
8.机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
9.水箱采用16L大容量水箱，置于箱体底部，采用自动补水功能；试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.

试验箱满足标准：
1.IEC60068-2-66 ??
2.JESD22-A102-B
3.EIAJED4701 ? ? ?
4.EIA/JESD22
控制器:微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
分辨率温度：0.1压力：指针式0.1
控制稳定度:温度：±0.5℃，湿度：
内箱材质:SUS316#不锈钢
外箱材质:钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）
温度范围:110℃～132℃ 110℃～147℃
湿度范围:00%RH饱和蒸气
压力范围:表压力+0.2～2.0kg/cm2 表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间:大约45分钟 大约55分钟
循环方式:蒸气自然对流循环
安全保护:感温器检测保护，阶段高温保护，阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，二阶段高温保护，二阶段高压保护，三阶段紧急泄压保护，，手动泄压保护，自动泄压等。

PCT高压加速老化试验箱技术参数:
型    号       PCT-250    PCT-350 PCT-450     PCT-550
内箱尺寸（cm）Φ25×D35  Φ30×D45  Φ40×D55    Φ50×D60
外箱尺寸（cm）W56×H65×D105  W66×H105×D125   W76×H115×D135  W860×H135×D145